2025年度 (最新) 学院等開講科目理学院物理学系物理学コース

物理学特論発展第十二

開講元: 物理学コース
担当教員: YU XIUZHEN
授業形態: 講義
メディア利用科目: -
曜日・時限 (講義室)
クラス: -
科目コード: PHY.P693
単位数: 100
開講時期: 2025年度
開講クォーター: 3Q
シラバス更新日: 2025年5月29日
使用言語: 英語

シラバス

授業の目的（ねらい）、概要

電子顕微鏡は、ナノレベルの世界を可視化することで、科学技術の発展に不可欠なツールであり、物性物理学の理解、先端材料開発、およびナノテクノロジーへの応用まで幅広く貢献しています。特に、クライオ電子顕微鏡や時間分解電子顕微鏡の発展により、量子現象の解明にも大きな影響を与えています。本講義は、こうした物理学研究における最先端の評価技術について、学生が触れ、学ぶことを目的としています。

到達目標

講義では、電子線の幾何光学、電子と物質の相互作用、走査型電子顕微鏡（SEM）、透過型電子顕微鏡（TEM）、先端電子顕微鏡技術、創発量子物性の計測、さらに次世代顕微技術について学びます。これらの内容に触れることで、学生は物理学研究における最先端の評価技術についての理解を深めることができます。

キーワード

先端電子顕微鏡

学生が身につける力

専門力
教養力
コミュニケーション力
展開力 (探究力又は設定力)
展開力 (実践力又は解決力)

授業の進め方

電子顕微鏡の基礎から始め、走査型電子顕微鏡（SEM）、透過型電子顕微鏡（TEM）、先端電子顕微鏡技術、創発量子物性の計測の発展、そして将来の顕微計測技術の展望について紹介します。

授業計画・課題

	授業計画	課題
第1回	電子線の幾何光学	講義中に与えます
第2回	電子と物質の相互作用	講義中に与えます
第3回	走査型電子顕微鏡	講義中に与えます
第4回	透過型電子顕微鏡	講義中に与えます
第5回	先端電子顕微鏡技術	講義中に与えます
第6回	創発量子物性の計測	講義中に与えます
第7回	次世代の顕微計測技術	講義中に与えます

準備学修(事前学修・復習)等についての指示

学修効果を上げるため，教科書や配布資料等の該当箇所を参照し，「毎授業」授業内容に関する予習と復習（課題含む）をそれぞれ概ね100分を目安に行うこと。

教科書

特になし

参考書、講義資料等

Ludwing Reimer "Transmission Electron Microscopy", 5th edition, Springer
Stephen J. Pennycook, Peter D. Nellist " Scanning Transmission Electron Microscopy: Imaging and analysis", Springer (2011)

成績評価の方法及び基準

レポートによる

履修の条件・注意事項