2024年度学院等開講科目物質理工学院応用化学系応用化学コース

応用化学機器分析特論

開講元: 応用化学コース
担当教員: 髙尾俊郎 / 小澤健一 / 青柳里果 / 星野学 / 由井宏治
授業形態: 講義 (対面型)
メディア利用科目: -
曜日・時限 (講義室): 水5-8 (S4-203(S423))
クラス: -
科目コード: CAP.A481
単位数: 100
開講時期: 2024年度
開講クォーター: 4Q
シラバス更新日: 2025年3月14日
使用言語: 日本語

シラバス

授業の目的（ねらい）、概要

[講義の概要]　質量分析、単結晶Ｘ線構造解析、赤外吸収分光法、X線(放射光含む)を利用した化学状態解析について講述する。
[講義のねらい] 化合物の構造決定は、化学のあらゆる分野において不可欠である。この講義では、化合物の構造決定および特性解析に不可欠な分析法の原理とその解釈について学ぶ。また、最新の分析技術について講述する。

到達目標

本講義を履修することによって次の能力を修得する。
（１）機器分析法の原理を説明できる。
（２）機器分析法によって得られる結果を解釈できる。
（３）最新の機器分析技術を説明できる。

キーワード

質量分析（MS）、単結晶Ｘ線構造解析、赤外吸収分光法、X線光電子分光法（XPS）、X線吸収分光（XAS）、X線吸収端微細構造解析（EXAFS）

学生が身につける力

専門力
教養力
コミュニケーション力
展開力 (探究力又は設定力)
展開力 (実践力又は解決力)

授業の進め方

本講義は、（１）質量分析、（2）単結晶Ｘ線構造解析、（3）赤外吸収分光法、（4）X線(放射光含む)を利用した化学状態解析を利用した分析について概説する。
2023年度の予定は 12/6 質量分析, 12/20 軟X線分光法、 1/10 単結晶 X 線構造解析, 1/17 赤外分光法

授業計画・課題

	授業計画	課題
第1回	単結晶Ｘ線構造解析の基礎	単結晶Ｘ線構造解析の原理を説明できる。
第2回	単結晶Ｘ線構造解析の応用	単結晶Ｘ線構造解析で得られる結果を解釈できる。
第3回	質量分析の基礎	質量分析の原理を説明できる。
第4回	質量分析の応用	質量分析で得られる結果を解釈できる。
第5回	X線光電子分光法（XPS）	XPSの原理を説明し、スペクトルを解釈できる。
第6回	X線吸収分光（XAS）、X線吸収端微細構造解析（EXAFS）質量分析の応用	XASとEXAFSの原理を説明し、スペクトルを解釈できる。
第7回	赤外吸収分光法の基礎	赤外吸収分光法の原理を説明できる。
第8回	赤外吸収分光法の実践	赤外吸収分光法で得られるスペクトルを解釈できる

準備学修(事前学修・復習)等についての指示

学修効果を上げるため，教科書や配布資料等の該当箇所を参照し，「毎授業」授業内容に関する予習と復習（課題含む）をそれぞれ概ね100分を目安に行うこと。

教科書

指定しない。

参考書、講義資料等

資料は講義中に配布する。

成績評価の方法及び基準

理解度確認のための演習またはレポート（５０％）、授業参加度（５０％）（授業参加度は授業での討論、小テストなどにより算出する）

履修の条件・注意事項

関連する科目を履修していることが望ましい。

連絡先 (メール、電話番号) ※”[at]”を”@”(半角)に変換してください。

高尾俊郎 : takao.t.aa[at]m.titech.ac.jp

オフィスアワー

メールで事前予約すること。

その他

日程は決定次第、通知予定。