2021年度学院等開講科目物質理工学院応用化学系応用化学コース

応用化学機器分析特論

開講元: 応用化学コース
担当教員: 由井宏治 / 笠間健嗣 / 尾嶋正治 / 星野学
授業形態: 講義
メディア利用科目: -
曜日・時限 (講義室): 水5-8
クラス: -
科目コード: CAP.A481
単位数: 100
開講時期: 2021年度
開講クォーター: 4Q
シラバス更新日: 2025年7月10日
使用言語: 日本語

シラバス

授業の目的（ねらい）、概要

[講義の概要]　質量分析、原子軌道電子の励起を利用した分析、単結晶Ｘ線構造解析、赤外吸収分光法について講述する。
[講義のねらい] 化合物の構造決定は、化学のあらゆる分野において不可欠である。この講義では、化合物の構造決定および特性解析に不可欠な分析法の原理とその解釈について学ぶ。また、最新の分析技術について講述する。

到達目標

本講義を履修することによって次の能力を修得する。
（１）機器分析法の原理を説明できる。
（２）機器分析法によって得られる結果を解釈できる。
（３）最新の機器分析技術を説明できる。

キーワード

質量分析（MS）、X線光電子分光法（XPS）、オージェ電子分光法（AES）、X線マイクロ分析（EPMA）、X線吸収端微細構造解析（EXAFS）、単結晶Ｘ線構造解析、赤外吸収分光法

学生が身につける力

専門力
教養力
コミュニケーション力
展開力 (探究力又は設定力)
展開力 (実践力又は解決力)

授業の進め方

本講義は、（１）質量分析、（２）原子軌道電子の励起を利用した分析、（３）単結晶Ｘ線構造解析、（４）赤外吸収分光法、について概説する。

授業計画・課題

	授業計画	課題
第1回	質量分析の基礎	質量分析の原理を説明できる。
第2回	質量分析の応用	質量分析で得られるスペクトルを解釈できる。
第3回	X線光電子分光法（XPS）、オージェ電子分光法（AES）	XPSとAESの原理を説明し、スペクトルを解釈できる。
第4回	X線マイクロ分析（EPMA）、X線吸収端微細構造解析（EXAFS）	EPMAとEXAFSの原理を説明し、スペクトルを解釈できる。
第5回	単結晶Ｘ線構造解析の基礎	単結晶Ｘ線構造解析の原理を説明できる。
第6回	単結晶Ｘ線構造解析の応用	単結晶Ｘ線構造解析で得られる結果を解釈できる。
第7回	赤外吸収分光法の基礎	赤外吸収分光法の原理を説明できる。
第8回	赤外吸収分光法の実践	赤外吸収分光法で得られるスペクトルを解釈できる。

準備学修(事前学修・復習)等についての指示

学修効果を上げるため，教科書や配布資料等の該当箇所を参照し，「毎授業」授業内容に関する予習と復習（課題含む）をそれぞれ概ね100分を目安に行うこと。

教科書

指定しない。

参考書、講義資料等

資料は講義中に配布する。

成績評価の方法及び基準

理解度確認のための演習またはレポート（５０％）、授業参加度（５０％）（授業参加度は授業での討論、小テストなどにより算出する）

履修の条件・注意事項

関連する科目を履修していることが望ましい。