2024年度学院等開講科目物質理工学院応用化学系

機器分析A（表面・X線・電気等）

開講元: 応用化学系
担当教員: 豊田栄 / 和田裕之 / 今岡享稔 / 鈴木耕太 / 澤田知久 / 塚原剛彦 / 鷹尾康一朗
授業形態: 講義 (対面型)
メディア利用科目: -
曜日・時限 (講義室): 火1-2 (M-135)
クラス: -
科目コード: CAP.N305
単位数: 100
開講時期: 2024年度
開講クォーター: 3Q
シラバス更新日: 2025年3月14日
使用言語: 日本語

シラバス

授業の目的（ねらい）、概要

応用化学分野でよく用いられる機器分析の中から，主に無機物質の分離，同定，定量，構造・機能解析などに焦点を当て，分析原理の基礎を解説する。

最新の機器分析法に触れることで，応用化学分野の研究に実践的に活かせる考え方を学ぶ。

到達目標

本講義を履修することによって，応用化学分野で用いられる機器分析について理解し，研究の場で分析法の適切な選択と正確な測定ができるようになることを目標とする。さらに各機器分析法の発展の歴史について学び，今後の展開や必要とされる分析法について考えられるようになることを目標とする。

キーワード

分離定量分析，X線回折，無機元素分析，熱分析，同位体関連分析，分光分析，表面分析

学生が身につける力

専門力
教養力
コミュニケーション力
展開力 (探究力又は設定力)
展開力 (実践力又は解決力)

授業の進め方

応用化学分野で基本となる分光分析,表面分析,熱分析,分離定量分析,同位体関連分析などを取り上げ，基礎原理と研究手法について学習する。各分析法における発展の歴史や最先端の分析法についても事例を挙げて紹介する。また，各分析法で得られるデータの取り扱いを演習形式で学ぶことで，研究活動に活かせる講義とする。

授業計画・課題

	授業計画	課題
第1回	分離定量分析	汎用性の高い分離定量分析であるクロマトグラフィーの原理を説明でき，目的に応じて適切な固定相，移動相，検出器を選べるようになる。
第2回	X線回折分析	X線回折分析の原理を理解し、単結晶や多結晶体における、結晶構造解析の実験手法と解析手法を説明することができるようになる。
第3回	無機元素分析	原子吸光，ICP-AES，XRFなど無機元素分析の原理を説明でき、適切な分析手法の選択と正しいデータの取り扱いができるようになる。
第4回	熱分析	TG-DTA, DSC, カロリメトリーなどの熱分析の原理を説明でき、その利用方法を説明することができる。
第5回	同位体関連分析	物質の濃度や組成を精密に計るために不可欠な同位体関連分析法（ICP質量分析、表面電離型質量分析、放射線スペクトロメトリ―等）の原理及び特徴を説明できるようになる。
第6回	分光分析	無機材料や触媒材料の組成・構造・特性解析に必要な各種分光分析(XAFS，EDS，EELS，ラマン，赤外分光)の原理を説明でき、かつ目的に応じた分析方法を選択するとともに、得られたスペクトルデータを定性的に読み取ることができるようになる。
第7回	表面分析	電子顕微鏡、操作プローブ顕微鏡、オージェ電子分光法、X線光電子分光法、2次イオン質量分析法、蛍光X線分析法等の表面分析法を説明できるようになる。

準備学修(事前学修・復習)等についての指示

学修効果を上げるため，教科書や配布資料等の該当箇所を参照し，「毎授業」授業内容に関する予習と復習（課題含む）をそれぞれ概ね100分を目安に行うこと。

教科書

特になし。

参考書、講義資料等

各担当教員が指定する。

成績評価の方法及び基準

毎回の演習（50%）と期末試験(50%)

履修の条件・注意事項

履修の条件を設けない。